Réunion SAMux '95
12 Janvier 1996
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PROGRAMME

Mot du Président / 9h00 à 9h15 /

Les Standards en Microanalyse X / 9h15 à 9h35 /
Jean-Marie Claude / Université de Nancy I

Défocalisation des Images X "grand champ" en WDS / 9h35 à 10h20 /
Jean-Louis Pouchou / O.N.E.R.A.
Questions et remarques / 10h20 à 10h30 /

Pause café / 10h30 à 10h45 /


Exemples d'application de STRATA / 10h45 à 11h15 /
Jean Lamontanara / Ugine Savoie /

Importance de la surface en Microanalyse X / 11h15 à 11h45 /
Guy Remond - Pierre Ermakoff / B.R.G.M. /
Questions et remarques /11h45 à 12h00 /

Repas /12h00 à 13h30 /


Election du Président du SAMux / 13h30 à 13h45 /

Utilisation de Xmas_Batch pour l’analyse d’échantillons stratifiés / 13h45 à 14h10 /
Marc Spirckel / E.T.C.A./

Doit-on toujours acquérir témoins et échantillons dans les mêmes conditions ? / 14h10 à 14h40 /
F. Galbert / Université de Berlin
Questions et remarques /14h40 à 14h50 /

Pause café / 14h50 à 15h00 /

Posters et table ronde: / 15h00 à 16h00 /
Exemples d'utilisation du facteur Aire/Pic
Denis Boivin / O.N.E.R.A. /
Dosage du carbone sur aciers
Jean-Philippe Toth / D.C.N. I.N.D.R.E.T. /
Table ronde

Actualité et projets de SAMx /16h00 à 16h45 /
Jean-François Thiot / SAMx


Message à notre bien aimée Présidente, Florence Robaut