Réunion SAMux' 2003

Groupe des Utilisateurs SAMx

lundi 8 décembre 2003

 

 

PROGRAMME

 

 

F 8h45 à 9h00 :        Accueil des participants

 

F 9h00 à 9h15 :        Présentation

                                   S. Ramseyer / Président du SAMux

 

F 9h15 à 9h30 :        Actualité et Projets de SAMx

                                   J.F. Thiot / SAMx

 

F 9h30 à 10h15 :       Monte Carlo Hurricane

                                    J.L. Pouchou / ONERA / Châtillon

 

åPause café :10h15 à 10h45

 

F 10h45 à 11h15 :      Influence de la nature du substrat (conducteur ou isolant),                                      sur la mesure d'épaisseur de couches de SnO2.

                                     J. P. Lehuédé, B. Germain / Saint Gobain / Aubervilliers

 

F 11h15 à 11h45:    Analyse de TiOx en couche mince: la problématique du

                                    choix des standards

                                   F. Bussy / UNIL / Lausanne

 

 

F 13h45 à 14h05 :    Optimisation du MEB pour la reconstruction 3D

                                   D. Boivin / ONERA / Châtillon

 

F 14h05 à 14h25 :    Analyse quantitative avec standards stratifiés

                                   F. Grillon / EDM / Evry

 

F 14h25 à 14h45 :    Analyse de nanotubes

                                   F. Brisset / LEM CNRS / Châtillon

 

åPause café :14h45 à 15h15

 

 

F 15h15 à 15h30 :     Exemples d'applications de STRATAGem comme outil

                                    de développement de nouveaux produits et des process

                                    associés.

                                    F. Poret / Thomson Tubes / Genlis

 

 

F 15h30 à 15h45 :    Analyse microsonde du carbone dans les aciers cémentés :

                                   Quelle méthode de mesure ?

                                   A. Crisci / CMTC / Grenoble

 

F 15h45 à 16:00 :    Table ronde